Da die SyXRF eine oberflächensensitive Analyse ist und gerade bei Metallegierungen (in besonderem Maße z.B. Legierungen aus Kupfer und Silber) aufgrund unterschiedlichen Lösungsverhaltens beim Erstarren der Schmelze keine homogene Elementverteilung vom Rand bis in die Mitte der Legierung vorausgesetzt werden kann, muß theoretisch abgeschätzt werden, wie dick die maximal zu analysierenden Schichten sein können.