Die SYXRF an ELSA gestattet es, durch die Verwendung der FPM die gemessenen Spektren schnell und einfach auszuwerten, so daß auch größere Mengen von Proben leicht untersucht werden können.
Der Untergrundverlauf der Spektren bei der SYXRF ist auf Grund der polarisierten SR sehr klein. Hierdurch lassen sich in relativ kurzer Zeit (300 s) Spurenelemente in Proben nachweisen, da der Fluroreszenzdetektor durch den geringen Anteil von Untergrundzählraten die weitaus längere Zeit der Messung echte Peakzählraten aufnehmen kann.
Die Arbeit zeigt, daß die Röntgenfluoreszenzanalyse an der
Synchrotronstrahlungsquelle ELSA bei 2.3 GeV Elektronenenergie und
einer quadratischen Blende von nur 30 
eine
Nachweisgrenze von 10 ppm bei unendlich dicken Proben für
1000 s lange Messungen erreicht. In
dünnen Targets können sogar Flächenbelegungsdichten von 1 
für Spurenelementen bei einer quadratischen Blende von 500 
und einer Meßzeit von 1000 s nachgewiesen werden.
Ein gewisser Nachteil der SYXRF besteht darin, daß
für schwerere Elemente, die über die L
--Strahlung
nachgewiesen werden, die Sensitivität abnimmt.
Mit diesen Ergebnissen liegt die SYXRF, wie der Vergleich mit anderen Methoden gezeigt hat, in einem ähnlichen Nachweisbereich bezüglich Spurenelementkonzentrationen. Da sie zudem absolut zerstörungsfrei ist, eignet sie sich besonders zur Untersuchung von wertvollen archäologischen Artefakten.