next up previous contents
Next: Inhaltsverzeichnis Up: Quantitative SyXRF Previous: Quantitative SyXRF

Zusammenfassung

Zusammenfassung


Der vorgestellte Aufbau zur Röntgenfluoreszenzanalyse mit Synchrotronstrahlung (SyXRF) an ELSA erlaubt die direkte Bestimmung von Elementkonzentrationen und, für dünne Probenschichten, von elementaren Flächenbelegungen zu untersuchender Proben nach der Methode der fundamentalen Parameter ohne die Verwendung von Standardproben zur Kalibration.

Der Verzicht auf eine Probenentnahme oder -behandlung, die Durchführung der Messungen an Luft und die zerstörungsfreie Analyse durch Röntgenstrahlung machen die SyXRF besonders zur Untersuchung wertvoller kulturhistorischer Objekte interessant.

Die hohe Intensität und die Polarisation der Synchrotronstrahlung ermöglichen bei Anregung mit Strahldurchmessern unterhalb von 100 noch Spurenelementanalysen im ppm-Bereich oder die Bestimmung von Flächenbelegungen unterhalb von 100 .

Die spektrale Verteilung der vom Elektronenbeschleuniger ELSA gelieferten Synchrotronstrahlung wird durch den Einsatz von speziell auf die Bedürfnisse der SyXRF zugeschnittene Strahlungsmonitore überprüft. Der hierdurch erreichte Fehler in der Reproduzierbarkeit der Analysen liegt unterhalb von 5%. Der Vergleich von den nach der Methode der fundamentalen Parametern berechneten mit den gemessenen Werten zeigt eine Übereinstimmung im Bereich der zur Auswertung verwendeten Wirkungsquerschnitte von 5% bis 10%.