Zur Anpassung der SR an die gegebene Probe und die damit verbundene
Problemstellung dient ein System aus Aluminiumabsorbern, das durch
die Einstellung unterschiedlicher Absorberdicken die Aufhärtung der
anregenden spektralen Verteilung ermöglicht.
Als Absorbermaterial wurde Aluminium ( Z=13 ) gewählt,
weil die K-oder L-Absorptionskanten der standardmäßig mit der Methode zu
analysierenden Elemente mit einer Ordnungszahl 
oberhalb
3.0 keV liegen und somit die K-Absorptionskante des Aluminiums bei
1.6 keV die spektrale Verteilung für diese Elemente nicht beeinflußt.
Die Angabe des totalen Absorptionsquerschnittes ist oberhalb der
K-Absorptionskante mit größerer Genauigkeit möglich als in der
Nähe der Kante. Zur Aufhärtung und Anpassung der spektralen
Verteilung bei einer Elektronenenergie von 2.3 GeV in dem
für die Methode wünschenswerten Maß sind die eingebauten Absorber
der Dicken 0.5 -, 1 - und 2 mm ausreichend. Das Eintrittsfenster des
SyXRF-Aufbaus aus einem 0.2mm dicken Aluminiumblech muß zu den
wechselbaren Absorbern jeweils hinzugerechnet werden.
Das verwendete Aluminium besitzt nach den Angaben des Herstellers eine Reinheit von mindestens 99.5%. Die Verunreinigung des Absorbermaterials mit stärker absorbierenden Elementen als Aluminium kann auch bei dem geringen Anteil von 0.5% einen störenden Einfluß auf die spektrale Verteilung haben. Deshalb wurde das im SyXRF-Aufbau verwendete Aluminium mit Hilfe der Röntgenfluoreszenzanalyse auf seine Zusammensetzung hin überprüft. Die Absorber bestehen hiernach aus 99.7% Aluminium und 0.3% Eisen. Der Einfluß des Eisenanteils auf die Absorption ist gering und kann leicht korrigiert werden. Weitere gefundene Spurenelemente, wie Kupfer oder Gallium sind in für die Absorption vernachlässigbarer Konzentration vorhanden.
Nach den Berechnungen in Kap.3.4, Gl.5 ist die oben verwendete grobe
Angabe der mechanischen Dicke der Aluminiumabsorber völlig unzureichend.
Zur Bestimmung der Transmission eines Absorbers ist auch nicht
dessen mechanische Dicke von Bedeutung, sondern nur die Flächenbelegung.
Diese Massenbelegung pro Flächeneinheit
des Absorbers kann durch Flächenbestimmung und Abwiegen ohne
Umweg über einen angenommenen Dichtewert des Materials angegeben werden.
Die so erhaltenen Flächenbelegungen sind in Tab. 5 mit
den nach der Streurechnung [Kap. 5, Kap. 6.4, Abb. 24a,b]
aus der vorderen Flankenposition von Streuspektren bestimmten
Werten verglichen.
Tab. 5
Die durch Auswiegen bestimmte Flächenbelegung der Aborber stimmt
überaschend gut mit den aus der absorptionsabhängigen
vorderen Flankenposition des Streuberges in gemessenen Streuspektren
stammenden Werten überein, ist allerdings systematisch zu hoch.
Der Fehler der für Aluminium verwendeten Absorptionsquerschnitte in
dem betrachteten Energiebereich liegt hiernach bei 1-2%.
Die Anpassung der Streurechnung an die vordere Flankenposition im
Streuspektrum bezieht neben dem Eisenanteil des Absorbers
auch das Eintrittsfenster aus Aluminium, die absorbierenden
Luftstrecken und andere vorhandene Absorber in die Rechnung ein.
Während die ausgewogenen
Flächenbelegungen mittlere Werte über den gesamten
Absorber darstellen, berücksichtigt die Anpassung der
Flächenbelegung an die im Streuspektrum auftretende Absorption die
individuellen Absorbereigenschaften am Strahlfleck und korrigiert
gleichzeitig Fehler in der Angabe des Eisengehaltes oder anderer
Absorberschichten.
In den FP-Rechnungen zur Röntgenfluoreszenzanalyse werden
deshalb die aus
dem Vergleich der Streurechnung mit den Streuspektren folgenden
Flächenbelegungen der Absorber verwendet, da diese gerade auf
der Anpassung der berechneten spektralen Verteilung
an die experimentellen Bedingungen beruhen.