In der Numismatik werden wie in der Archäometrie Fragen nach Herkunft, Herstellungsverfahren, wirtschaftlichen Zusammenhängen, Lagerstätten, Echtheit usw. gestellt und beantwortet. Dafür stehen neben rein typologischen Bestimmungsarten auch verschiedene naturwissenschaftliche Analyseverfahren zur Verfügung. Diese haben oft den Nachteil, daß sie nicht zerstörungsfrei und, wenn es sich um mechanische oder konventionelle chemische Methoden handelt, nicht sensitiv genug sind.
Bei der Röntgenfluoreszenzspektroskopie mit
Synchrotronstrahlung (SyXRF
), wie sie seit 1989 von der
Archäometriegruppe des Instituts für Strahlen-- und
Kernphysik am ELektronen Stretcher and Accelerator
Ring(ELSA) des Physikalischen Institituts (PI) Bonn durchgeführt
wird [PAN91], ist die Forderung nach Zerstörungsfreiheit und
hoher Sensitivität erfüllt [SAR95]. Ein weiterer Vorteil ist,
daß sie ohne Standards auskommt, da hier mit der
Fundamentalparametermethode (FPM), der Berechnung der Spektren unter
Kenntnis sämtlicher Wirkungsquerschnitte, der anregenden Strahlung
und der Geometrie, gearbeitet wird.
In dieser Arbeit werden nun fünf ausgewählte Münztypen auf ihren Elementgehalt hin untersucht. Die Analyseergebnisse sollen Aufschluß über die Möglichkeit der Fälschungserkennung anhand von Spurenelementen und der Homogenität der Legierung geben. Dabei ist allerdings zu bedenken, daß die SyXRF eine oberflächensensitive Methode ist und daher die Analyseergebnisse nicht unbedingt repräsentativ für die gesamte Münze sein müssen.
Im ersten Teil der Arbeit werden die untersuchten Münzen beschrieben und einige Begriffe erläutert, die in der Numismatik gebräuchlich sind. Hier wird vor allem auf eine Unterscheidung von Fälschung, Nachahmung und Nachprägung wert gelegt.
Im darauffolgenden Teil der Arbeit werden die erfolgten Messungen beschrieben, ausgewertet und die Probleme bei der Auswertung der Röntgenfluoreszenspektren gezeigt. Dazu wird zum einen der experimentelle Aufbau im Synchrotronstrahlungslabor des physikalischen Instituts Bonn vorgestellt, zum anderen wird eine Übersicht der Formeln gegeben, die benötigt werden, um nach der FPM die Elementkonzentrationen einer Probe zu bestimmen. Weiterhin werden maximal analysierbare Schichtdicken angegeben, um ein Maß für die Oberflächensensitivität zu haben.
Im letzten Teil dieser Arbeit werden die Analyseergebnisse präsentiert und interpretiert. Der Ausblick stellt weitere Möglichkeiten für die Metallanalyse durch Röntgenfluoreszenz mit Synchrotronstrahlung vor.