Zusammenfassung
Der vorgestellte Aufbau zur Röntgenfluoreszenzanalyse mit
Synchrotronstrahlung (SyXRF) an ELSA erlaubt die direkte Bestimmung
von Elementkonzentrationen und, für dünne Probenschichten,
von elementaren Flächenbelegungen zu untersuchender Proben
nach der Methode der fundamentalen
Parameter ohne die Verwendung von Standardproben zur Kalibration.
Der Verzicht auf eine Probenentnahme oder -behandlung, die
Durchführung der Messungen an Luft und die zerstörungsfreie
Analyse durch Röntgenstrahlung machen
die SyXRF besonders zur Untersuchung wertvoller kulturhistorischer
Objekte interessant.
Die hohe Intensität und die Polarisation der Synchrotronstrahlung
ermöglichen bei Anregung mit Strahldurchmessern unterhalb von 100 
noch Spurenelementanalysen im ppm-Bereich oder die
Bestimmung von Flächenbelegungen unterhalb von 100 
.
Die spektrale Verteilung der vom Elektronenbeschleuniger ELSA gelieferten Synchrotronstrahlung wird durch den Einsatz von speziell auf die Bedürfnisse der SyXRF zugeschnittene Strahlungsmonitore überprüft. Der hierdurch erreichte Fehler in der Reproduzierbarkeit der Analysen liegt unterhalb von 5%. Der Vergleich von den nach der Methode der fundamentalen Parametern berechneten mit den gemessenen Werten zeigt eine Übereinstimmung im Bereich der zur Auswertung verwendeten Wirkungsquerschnitte von 5% bis 10%.