Die Auswirkungen der schwankenden Halbwertsbreite des Elektronenstrahls auf die Sensitivität sollen durch einige theoretische Rechnungen untersucht werden. Auf die allgemeinen Probleme der sich verändernden SR während eines Speicherzyklus in Abhängigkeit auf die Elektronenstrahlqualität an ELSA ist Heimermann in seiner Dissertation ausführlich eingegangen [HEIM95].
Abbildung 4.9: Der Einfluß der Elektronenstrahlhalbwertsbreite an ELSA auf
die Sensitivität, Standardaufbau der SYXRF.
Für die Simulationsrechnung wurden die Parameter des Standardaufbaus verwendet. Der Untergrundverlauf wurde für Halbwertsbreiten des Elektronenstrahls von 1.5 mm, 3.0 mm und 5.0 mm berechnet. Abbildung 4.9 zeigt die gegen die Spurenelemente aufgetragene Nachweisgrenze.
Die Verschlechterung der Nachweisgrenze von 1.5 mm zu 5.0 mm Strahlhalbwertsbreite ist deutlich sichtbar. Beim Vergleich von Spurenelementkonzentrationen aus Messungen, in der die Halbwertsbreite stark geschwankt hat, sollte dieser Effekt berücksichtigt werden.
Für Messungen bei breiten Strahlhalbwertsbreiten von 3.0 mm bis 5.0 mm ist der Unterschied bei der Nachweisgrenze nur sehr schwach und kann entsprechend durch eine mittlere Elektronenstrahlhalbwertsbreite abgeschätzt werden.