Mit den oben dargestellten Ergebnissen liegt die SYXRF in einem ähnlichen Nachweisbereich von Spurenelementkonzentrationen wie andere Methoden, zum Beispiel die Totalrefection X--Ray Fluorescence (TXRF), die Particle Induced X--Ray Emission (PIXE) und die Neutron Activation Analysis (NAA) [MOM78][MAE90][KNÖ90].
Die SYXRF an dem Brookhaven National Laboratory Upton erreicht ähnlich hohe Sensitivitäten bei Elektronenenergien von 2.5 GeV und weisser SR [JON89].
Die TXRF schafft noch höhere Nachweisgrenzen im ppb
Bereich [KNÖ90]. Ein gewisser Nachteil ist hier, daß kleine
Probenmengen in der Größenordnung von
einigen 
entnommen werden müssen. Die TXRF befindet sich an der bestehenden
Meßapparatur im Aufbau und wird in Zukunft auch diese
Nachweismöglichkeit an ELSA erlauben.
Die PIXE arbeitet bei der Analyse von Spurenelementen in einem ähnlichen Nachweisbereich wie die SYXRF [MOM78][MAE90]. Wegen der Anregung durch Teilchen, in der Regel Protonen bei einigen MeV, kann es zur radioaktiven Anregung der Proben führen und stellt einen gewissen Nachteil der PIXE gegenüber der SYXRF da.
Die NAA ist für den Nachweis von Spurenelementen für eine große Anzahl von Elemente im Periodensystem hervorragend geeignet und erreicht hier Nachweisgrenzen von ungefähr 0.01 ppm, stark abhängig von dem nachzuweisenden Element [MAE90]. Gerade im Bereich der Lanthanoide ist die NAA der SYXRF überlegen. Ein gewisser Nachteil der NAA liegt darin, daß meist kleine Probenmengen entnommen werden müssen und daß einige wenige Elemente sich überhaupt nicht über die NAA nachweisen lassen.
Der Anwendungsbereich der SYXRF liegt in der Materialanalyse. Wenn es um den Nachweis von Verunreinigungen in Proben, die jenseits der hier bestimmten Nachweisgrenzen liegen, geht, gibt es andere Verfahren, z.B. TXRF und NAA, die der SYXRF hier eindeutig überlegen sind. Gerade bei der Archäometrie liegen die Spurenelemente aber häufig in höheren Konzentrationen vor. Außerdem wird, wegen der wertvollen einmaligen Objekte, eine absolut zerstörungsfreie Spurenelementanalyse gefordert. Hier ist die SYXRF als Analyseverfahren besonders geeignet.