Wie die ersten Tests zeigten, bietet die TXRF mit Objektträgern die
Möglichkeit, kleinste Probenmengen relativ schnell und problemlos zu
analysieren. Die quantitativen Auswertungen zeigten, daß der Einfallswinkel
auf den Probenträger hierbei keine so große Rolle spielt wie zum Beispiel
bei dem Röntgenspiegel, der als Tiefpaßfilter genutzt wurde. Solange der
Einfallswinkel unter etwa 1.5 mrad liegt, kann mit einer Reflexion über
den gesamten interessanten Bereich des anregenden Spektrums (bis etwa
20 keV) gerechnet
werden. Die spektrale Verteilung ist hierbei nahezu winkelunabhängig. Die
Testmessungen wurden zumeist ohne Cutoff Spiegel durchgeführt, da zunächt
die Anregung über das gesamte Spektrum betrachtet werden sollte. Bei Einsatz
des Spiegels war jedoch eine deutliche Unterdrückung des Streukontinuums zu
erkennen. Der Spiegel kann somit zukünftig gezielt dazu eingesetzt werden,
das anregende Spektrum bei bestimmten Energien abzuschneiden, um so
gewünschte Elemente optimal ohne störenden inkohärenten Streuuntergrund
anzuregen. Dabei dürfte eine verbesserte Targetpositionierung, wie sie im
Moment im Rahmen einer Diplomarbeit bearbeitet wird, bei der Einstellung der
Doppelreflexion von Vorteil sein.
Eine weitere Verbesserung der Sensitivität würde durch eine Vakuumkammer
erreicht. Wie in Kapitel 2 gezeigt wurde, ist die Luftstreuung an der
Targetposition nicht vernachlässigbar. Der Strahl wird aufgeweitet und dringt
unter beliebigen Winkeln in das Target ein.
Dennoch könnten demnächst auch bereits mit diesem Aufbau weitere
Pigmentuntersuchungen vorgenommen werden. So sind mit der SYXRF
Farbanalysen an Ikonen geplant und im Rahmen eines Interlaborvergleichs
Analysen einer größeren Serie von Ölfarben. Parallel zu den SYXRF
Messungen können Farbanalysen mit TXRF durchgeführt werden.