Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) handelt es sich um eine klassische
Methode zur zerstörungsfreien Multielementanalyse [Jen81]. Die XRF
angeregt durch Synchrotronstrahlung
(SYXRF) [Jon89] bietet gegenüber der üblichen Anregung mit Hilfe von
Röntgenröhren einige
Vorteile [Knö90]. Zunächst einmal läßt sich das anregende polychromatische und
kontinuierliche Spektrum anhand der Maschinenparameter theoretisch
berechnen. Dadurch bietet sich die Möglichkeit, die Röntgenfluoreszenz einer
Probe auch bei polychromatischer Anregung über Fundamentalparameter
auszuwerten. Die Strahlung ist zudem in der Ringebene polarisiert, wodurch die
Streustrahlung in dieser Ebene unterdrückt wird. Schließlich ist
Synchrotronstrahlung im allgemeinen intensiver als röhreninduzierte
Röntgenstrahlung und hat zudem eine geringe Divergenz.
Somit können sehr kleine Strahlquerschnitte verwendet
werden. Im folgenden soll zunächst der SYXRF Meßplatz vorgestellt werden, an
dem die Experimente für die vorliegende Arbeit durchgeführt wurden. Danach
werden die Eigenschaften der Synchrotronstrahlung beschrieben, insbesondere
deren Divergenz, da diese im Hinblick auf die Reflexion der Strahlung von
Interesse sein wird. Schließlich erfolgt eine kurze Beschreibung der
Hauptwechselwirkungen
von Röntgenstrahlung mit Materie, nämlich die eigentliche
Röntgenfluoreszenz und die Streuung der Röntgenstrahlung.