Röntgenfluoreszenzanalyse
bei Totalreflexion
der anregenden Synchrotronstrahlung
an ELSA
Inaugural-Dissertation
zur
Erlangung des Doktorgrades
der
Hohen Mathem.-Naturw. Fakultät
der
Rheinischen Friedrich-Wilhelms-Universität
zu
Bonn
vorgelegt von
Anno Hein
aus
Kevelaer
Bonn 1996

Angefertigt mit Genehmigung der
Mathematisch-Naturwissenschaftlichen
Fakultät der Universität Bonn

 
Referent:   		Prof. Dr. H. Mommsen

Korreferent:		Prof. Dr. P. David

• Inhalt
• Einleitung
• SYXRF
  • Der SYXRF-Meßplatz an BN1
  • Spektrale Verteilung der Synchrotronstrahlung
  • Natürliche Divergenz der Synchrotronstrahlung
  • Divergenz bei endlicher Elektronenstrahlbreite
  • Röntgenfluoreszenzanalyse
  • Streuung von Röntgenstrahlung
  • Aufweitung des Strahls durch Streuung
• Röntgentotalreflexion
  • Totalreflexion
  • Brechungsindex und kritischer Winkel
  • Reflexion und Transmission
  • Eindringtiefe
  • Stehende Wellen
  • Reflexion und Transmission an mehreren Schichten
  • Anwendungen der Röntgentotalreflexion
  • Detektornachweiswahrscheinlichkeit bei streifendem Einfall
  • Fehlerquellen
• Messungen mit Totalreflexion
  • Aufbau des Experiments
  • Öffnungswinkel des Detektors
  • Röntgenspiegel - 'high energy cutoff'
  • Mehrschichtige Targets
  • TXRF mit Objektträger
  • Zukünftiger Einsatz der TXRF
• Das Programmpaket TXCALC
• Zusammenfassung
• Literatur