Inhalt

• Einleitung
• SYXRF
  • Der SYXRF-Meßplatz an BN1
  • Spektrale Verteilung der Synchrotronstrahlung
  • Natürliche Divergenz der Synchrotronstrahlung
    • Vertikale Divergenz
    • Horizontale Divergenz
  • Divergenz bei endlicher Elektronenstrahlbreite
    • Reale vertikale Divergenz
    • Reale horizontale Divergenz
  • Röntgenfluoreszenzanalyse
  • Streuung von Röntgenstrahlung
  • Aufweitung des Strahls durch Streuung
• Röntgentotalreflexion
  • Totalreflexion
  • Brechungsindex und kritischer Winkel
  • Reflexion und Transmission
  • Eindringtiefe
  • Stehende Wellen
  • Reflexion und Transmission an mehreren Schichten
  • Anwendungen der Röntgentotalreflexion
    • Tiefpaßfilter - high energy cutoff
    • Röntgentotalreflexionfluoreszenzanalyse - TXRF
    • Oberflächenanalyse bei streifendem Einfall
    • Weitere Möglichkeiten
  • Detektornachweiswahrscheinlichkeit bei streifendem Einfall
  • Fehlerquellen
    • Oberflächenrauhigkeit des Reflektors
    • Welligkeit des Reflektors - 'waviness'
    • Formfehler des Reflektors
    • Divergenz der zu reflektierenden Strahlung
• Messungen mit Totalreflexion
  • Aufbau des Experiments
  • Öffnungswinkel des Detektors
  • Röntgenspiegel - 'high energy cutoff'
  • Mehrschichtige Targets
  • TXRF mit Objektträger
    • Objektträger
    • Spurenelementanalysen
    • Analyse von Pigmenten in Ölfarben
  • Zukünftiger Einsatz der TXRF
• Das Programmpaket TXCALC
• Zusammenfassung
• Literatur