Obwohl die Röntgentotalreflexion relativ früh phänomenologisch nachgewiesen
wurde [Com22], kam sie erstmals zu Beginn der 70er Jahre bei
Röntgenfluoreszenzexperimenten zum Einsatz [Yon71]. Bei einer Reflexion an
einer glatten Oberfläche wurde eine aufliegende dünne Probe angeregt. Die
Untergrundstrahlung aus dem Reflektor, die im Fluoreszenzspektrum hätte
stören können, konnte dabei unterdrückt werden. Zudem war die anregende
Strahlung um den reflektierten Anteil erhöht. In den Folgejahren wurde die
Methode weiter optimiert [Aig74] [Wob75] [Kno78]
[Kno80]. Unter anderem wurde ein
kommerzielles TXRF Spektrometer entwickelt (EXTRA II, Seiffert,
Ahrensburg, bzw. ATOMIKA, Oberschleißheim [ATO95]). Mitte der
80er Jahre kam es zu ersten Anwendungen der Methode mit Anregung durch
monochromatisierte Synchrotronstrahlung [Iid86].
In diesem Kapitel werden zunächst die theoretischen Grundlagen der
Röntgentotalreflexion vorgestellt. Hierbei wird der aus der Optik stammende
Ansatz über die Fresnelgleichungen verwendet. Im Anschluß werden mehrere
Anwendungsmöglichkeiten beschrieben, die die Totalreflexion bei der
Röntgenfluoreszenz bietet. Neben der klassischen
Totalreflexionröntgenfluoreszenzanalyse (TXRF), bei der eine Probe auf einem
reflektierenden Objektträger angeregt wird, kann auch der Reflektor selbst
untersucht werden. Die geringe Eindringtiefe bietet hierbei eine hohe
Oberflächensensitivität. Zum Abschluß werden die Abweichungen von den
theoretischen Reflektivitäten erörtert, die bei realen Reflektoroberflächen
und Strahlbedingungen zu berücksichtigen sind.